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德州儀器首推4MB快閃記憶體裝置應對惡劣環境

放大字體  縮小字體 發布日期:2014-10-10     來源:[標簽:出處]     作者:[標簽:作者]     瀏覽次數:165
核心提示:
(TI)宣佈推出滿足惡劣環境的業界首款高溫非揮發性快閃記憶體裝置,該SM28VLT32-HT具有4MB工作容量,毋需耗費昂貴成本再對工業級元件進行產品資料表規格以外的篩選(up-screening)與認證測試。該裝置不但可在極端溫度下實現資料記錄,還可確保在如油氣探勘、重工業以及航空等惡劣環境應用中至少工作1000小時。

  SM28VLT32-HT主要特性與優勢:

  1、最寬泛溫度範圍:唯一可在-55C至+210C溫度範圍內工作的非揮發性快閃記憶體裝置;

  2、高可靠度:經過測試可在裝置整體工作壽命內,于整個溫度範圍下實現穩健的讀/寫操作;

  3、更短設計時間:無需外部組件,可幫助製造商快速安全地開發各種可符合惡劣環境的應用,將開發、測試與認證時間縮短6個月;

  4、小型增強型封裝:SM28VLT32-HT可採用陶瓷扁平封裝(ceramicflatpack)或已知良品晶圓(KnownGoodDie;KGD)封裝,允許在多晶片模組中整合小型封裝,充分滿足電路板空間有限的系統需求;

  5、串列介面:SPI介面可簡化設計與封裝,減少接腳數。

  採用8mmx25mm陶瓷扁平封裝的SM28VLT32-HT現已開始提供樣品,將于2013年第1季提供KGD封裝選項,并投入量産。

  HTFLASHEVM評估模組內建于增強型電路板,可在更高溫度下實現更簡易的評估,該評估模組現已開始提供。

  SM28VLT32-HT可對TI全系列類比及嵌入式處理産品形成有力互補,充分滿足SM470R1B1M-HTARM7TDMI微控制器與SM320F28335-HTDelfino數位訊號控制器等高溫、高可靠度應用需求。
 

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