confocalDT 2421 和 2422 控制器用于高反射性或鏡面被測表面的位移和厚度測量。

 

本系列產品同時提供單通道或雙通道版本，為大批量工業應用提供更為經濟的解決方案。CCD陣列主動曝光管理功能，使對于復雜變化表面的測量更為準確、快速。本系列控制器可以適配各款IFS傳感器探頭，用于標準距離測量或多層厚度測量。采用特殊計算功能， confocalDT 2422 雙通道控制器可同時評估兩個通道的測量結果。通過同步功能，兩通道傳感器可以實現全速度位移測量。

 

源于友好的客戶網絡界面，無需額外安裝軟件，就可以實現全部調試功能。測量數據可以通過Ethernet, EtherCAT, RS422或模擬量端口輸出。